芯片老化測(cè)試箱
Chamber試驗(yàn)箱
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適用范圍
芯??化測(cè)試箱是?款專??于模擬芯?在ji端環(huán)境下?作狀態(tài)的設(shè)備,通過jing確控制溫度、濕度等環(huán)境參數(shù),模擬芯?在實(shí)際使?中可能遇到的?溫、?濕、?應(yīng)?等ji端條件,加速芯?的?化過程,通過這種?式,可以在短時(shí)間內(nèi)篩選出早期失效的芯?,優(yōu)化設(shè)計(jì)?案,提升產(chǎn)品良率,確保芯?在?期使?中的穩(wěn)定性和可靠性。
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