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高精度半導(dǎo)體老化箱基于苛刻環(huán)境模擬的全流程中的應(yīng)用解析
27在芯片研發(fā)流程中，可靠性驗(yàn)證是確保產(chǎn)品從實(shí)驗(yàn)室走向產(chǎn)業(yè)化的環(huán)節(jié)，而高精度半導(dǎo)體老化箱作為模擬苛刻環(huán)境的關(guān)鍵設(shè)備之一，通過(guò)準(zhǔn)確控制溫度、濕度等參數(shù)，為芯片長(zhǎng)期性能評(píng)估提供了可信賴(lài)的測(cè)試環(huán)境。 一、...
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