半導(dǎo)體溫度循環(huán)測試箱的快速溫變模擬技術(shù)研究 2025/08/14 29 在半導(dǎo)體器件的可靠性驗證體系中,溫度循環(huán)測試是評估器件耐受環(huán)境應(yīng)力能力的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。半導(dǎo)體溫度循環(huán)測試箱通過模擬苛刻溫度的快速交替變化,能夠準確檢測材料在溫度應(yīng)力下的疲勞特性,為器件的結(jié)構(gòu)設(shè)計優(yōu)化與... 查看全文