小型高溫試驗箱

寬溫域半導(dǎo)體老化測試Chamber的環(huán)境模擬可靠性評估

2025/08/14 23

在半導(dǎo)體器件的可靠性驗證體系中，寬溫域老化測試是評估器件在苛刻環(huán)境下長期穩(wěn)定性的關(guān)鍵手段。寬溫域半導(dǎo)體老化測試Chamber作為配套控溫設(shè)備，能夠在廣闊溫度范圍內(nèi)構(gòu)建可控環(huán)境，通過模擬器件可能遭遇的苛刻溫...

查看全文